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Jupyter notebook and example data [1]

Supplementary material to the publication: "Fast fourier transform and multi-Gaussian fitting of XRR data to determine the thickness of ALD grown thin films within the initial growth regime"

Datenpakete, die Ihrer Suche entsprechen.

Vorschaubild

Jupyter notebook code and example file for the evaluation of XRR data via FFT 

Lammel, Michaela; Thomas, Andy (Technische Universität DresdenIFW Dresden, 2020)
This is supplementary information to the publication: "Fast fourier transform and multi-Gaussian fitting of XRR data to determine the thickness of ALD grown thin films within the initial growth regime"

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AutorLammel, Michaela (1)Thomas, Andy (1)SchlagwortChemistry (1)Materials Science (1)Physics (1)... mehrErscheinungsdatum2020 (1)

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