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Metadaten

Für den Inhalt der Forschungsdaten verantwortliche Person(en)Lammel, Michaela
Für den Inhalt der Forschungsdaten verantwortliche Person(en)Thomas, Andy - TU Dresden
KurzbeschreibungThis is supplementary information to the publication: "Fast fourier transform and multi-Gaussian fitting of XRR data to determine the thickness of ALD grown thin films within the initial growth regime"
Weitere SchlagwörterXRR
Weitere SchlagwörterFFT
Weitere SchlagwörterALD
Spracheeng
Entstehungsjahr oder Entstehungszeitraum2018-2020
Veröffentlichungsjahr2020
HerausgeberTechnische Universität Dresden
HerausgeberIFW Dresden
Referenzen auf ergänzende MaterialienIsSupplementTo: arXiv:2008.04626 (arXiv)
Inhalt der ForschungsdatenDataset, Model, Software: XRR data of /Fe2O3/Y2O3 double layer on Si/SiO2 substrate
Inhaber der NutzungsrechteTechnische Universität Dresden
Inhaber der NutzungsrechteIFW Dresden
Nutzungsrechte des DatensatzesCC-BY-4.0
Eingesetzte SoftwareResource Production: Python 3.x
Angabe der FachgebieteChemistryde
Angabe der FachgebieteMaterials Sciencede
Angabe der FachgebietePhysicsde
Titel des DatensatzesJupyter notebook code and example file for the evaluation of XRR data via FFT


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Die Datenpakete erscheinen in:

  • Jupyter notebook and example data [1]Open Access Icon
    Supplementary material to the publication: "Fast fourier transform and multi-Gaussian fitting of XRR data to determine the thickness of ALD grown thin films within the initial growth regime"

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